レーザー測距および速度測距用の光検出器

現在、InGaAs APD には主に 3 つのアバランシェ抑制モードがあります。パッシブ抑制、アクティブ抑制、ゲート検出です。パッシブ抑制ではアバランシェフォトダイオードのデッドタイムが増加し、検出器の最大計数率が大幅に低下しますが、アクティブ抑制では抑制回路が複雑すぎて信号カスケードが放射されやすいため、非常に複雑になります。ゲート検出モードは現在、単一光子検出で使用されています。最も広く使用されています。

単一光子検出技術は、システムの精度と検出効率を効果的に向上させることができます。宇宙レーザー通信システムでは、入射光場の強度は非常に弱く、ほぼ光子レベルに達します。このとき、一般的な光検出器で検出した信号はノイズに邪魔されたり埋もれたりしてしまいますが、単一光子検出技術はこの極めて微弱な光信号を測定するのに用いられます。ゲート制御 InGaAs アバランシェ フォトダイオードに基づく単一光子検出技術は、アフターパルス確率が低く、時間ジッターが小さく、計数率が高いという特徴があります。

レーザー測距は、その正確かつ高速な特性とオプトエレクトロニクス技術の継続的な進歩により、産業制御、軍事リモートセンシング、宇宙光通信などの多くの分野で重要な役割を果たしてきました。その中で、従来のパルス測距技術に加えて、単一光子信号の検出効率を向上させ、ノイズを抑制して改善を図るフォトンカウンティングシステムに基づく単一光子検出技術など、いくつかの新しい測距ソリューションが常に提案されています。システム。測距精度。単一光子測距では、単一光子検出器の時間ジッターとレーザーのパルス幅が測距システムの精度を決定します。近年、高出力ピコ秒レーザーが急速に発展しているため、単一光子検出器の時間ジッターが単一光子測距システムの分解能精度に影響を与える大きな問題となっています。